Ф-215.1

Микропроцессорный прибор совмещает в себе функции порогового дефектоскопа и измерителя. 

Предназначен для:
- измерения напряженности и градиента напряженности постоянного магнитного поля; 
- выявления полей рассеяния, вызванных поверхностными и подповерхностными дефектами (нарушениями сплошности материала) в деталях, заготовках и готовых ферромагнитных изделиях, в том числе и в сварных конструкциях, при операциях НК феррозондовым методом;
- вывода графической информации о распределении поля или градиента в пространстве или во времени на дисплее прибора. 

Позволяет с помощью компьютера построить трехмерную цветную картину распределения поля или градиента на поверхности детали.

Вес, кг
1,2 кг.

Назначение
- Для измерения напряжённости постоянного и переменного магнитных полей;
- Измерения градиента напряжённости постоянного магнитного поля;
- Выявления полей рассеяния, вызванных поверхностными и подповерхностными дефектами (нарушения сплошности материала) в деталях, заготовках и готовых ферромагнитных изделиях, в том числе в сварных конструкциях.

Диапазон показаний поля, А/м:
± (0—4 000);

Диапазон измерений поля, А/м:
± (10—3 000);

Диапазон показаний градиента, А/м2:
± (0—220 000);

Диапазон измерений градиента, А/м2:
± (200—200 000)

Пределы допускаемой основной относительной погрешности измерения напряженности постоянного магнитного поля, %:
5/0,025;
Пределы допускаемой основной относительной погрешности измерения градиента напряженности постоянного магнитного поля, %:
7/0,05

Габариты
110 x 270 x 80