Микропроцессорный прибор для выявления поверхностных и подповерхностных дефектов в изделиях из ферромагнитных материалов в т.ч. в сварных швах, также для измерения напряженности и градиента напряженности постоянного магнитного поля на поверхности деталей и в свободном пространстве