Микропроцессорный прибор совмещает в себе функции порогового дефектоскопа и измерителя. 

Предназначен для:

 • измерения напряженности и градиента напряженности постоянного магнитного поля;
 • выявления полей рассеяния, вызванных поверхностными и подповерхностными дефектами (нарушениями сплошности материала) в деталях, заготовках и готовых ферромагнитных изделиях, в том числе и в сварных конструкциях, при операциях НК феррозондовым методом; 
• вывода графической информации о распределении поля или градиента в пространстве или во времени на дисплее прибора. 

Позволяет с помощью компьютера построить трехмерную цветную картину распределения поля или градиента на поверхности детали.